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Switching Loss Measurements for Wide Band Gap Power Semiconductors
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Veranstaltungen - idw - Informationsdienst Wissenschaft
Navigation --- Angebote --- Nachrichten Termine Experten Bilder Social Media --- Mein idw --- Login Registrieren --- Über den idw --- Wer wir sind Mitgliedschaft Mitgliederverzeichnis Qualitätssicherung idw-Preis --- Service --- Kontakt Einführung English FAQ ImpressumWide Band Gap power semiconductors are entering ever more power electronics applications, as they offer lower switching losses compared to Silicon devices and thus enable higher switching frequencies.
With decreasing losses, however, it is becoming increasingly important to achieve the highest possible precision for switching loss measurements, so that these devices can be utilized most effectively.
For several years, the Double Pulse Test (DPT) has been a standard procedure to measure switching losses.
25.11.2025 - 26.11.2025 | hybrid | KasselHilfeDie Suche / Erweiterte Suche im idw-ArchivVerknüpfungenSie können Suchbegriffe mit und, oder und / oder nicht verknüpfen, z.
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