Für präzises Schalten in Halbleitertestsystemen hat Toshiba zwei neue Fotorelais entwickelt. Die Bausteine kombinieren einen hohen Einschaltstrom mit einem geringen Leckstrom im Aus-Zustand und sollen dadurch präzise Messungen sowie ein platzsparendes Design ermöglichen. ▶ Diesen Artikel anhörenDie Fotorelais TLP3487 und TLP3491 sind in einem kompakten P-SON4-Gehäuse untergebracht und wurden speziell für Anwendungen wie automatisierte Testgeräte (ATE), Messinstrumente sowie Tester für Hochgeschwindigkeits-Logik-ICs, Speicherbausteine und SoCs entwickelt. Nach Unternehmensangaben erreichen die neuen Fotorelais durch ein optimiertes MOSFET-Ausgangsdesign einen maximalen Einschaltstrom von 2 A. Laut Toshiba benötigt es rund 74 % weniger Montagefläche als vergleichbare Fotorelais im 2.54SOP4-Gehäuse und etwa 84 % weniger als Varianten im 2.54SOP6-Gehäuse.